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LEICA三離子束切割儀在高通量實驗中的運用
2023-08-08

隨著科技的不斷進步,納米加工和表面改性在許多領域都變得越來越重要。在這些應用中,LEICA三離子束切割儀因其高精度、高速度和高效率而得到廣泛應用。本文將介紹三離子束切割儀在高通量實驗中的運用,以及其在納米加工和表面改性方面的優(yōu)勢。三離子束切...

  • 2025

    7-11

    徠卡超薄切片機作為材料科學、生物醫(yī)學等領域的關(guān)鍵設備,其適配性直接影響樣本制備質(zhì)量與實驗效率。本文從樣本類型、刀具系統(tǒng)、環(huán)境條件及功能擴展四個方面,解析該設備的多維適配特性。一、樣本適配性硬質(zhì)材料:配合鉆石刀可切削骨骼、牙齒等礦化組織。軟質(zhì)樣本:振蕩刀頭適用于腦組織、水凝膠等彈性材料,避免拖刀損傷。特殊介質(zhì):液氮冷凍系統(tǒng)支持低溫包埋劑切片,防止脂質(zhì)樣本融化。二、刀具與夾持系統(tǒng)協(xié)同優(yōu)化1.智能刀架系統(tǒng)自動磨刀模塊維持刀刃角度精度±0.1°;刀架振動補償算法消除細微...

  • 2025

    6-12

    在材料科學、電子器件分析和生物醫(yī)學研究中,獲取樣品的高質(zhì)量橫截面是進行微觀結(jié)構(gòu)分析和性能評估的前提。LEICA三離子束切割儀作為結(jié)合聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)的高級設備,已經(jīng)成為實現(xiàn)精準、無損切割的重要工具。然而,如何利用三離子束切割儀獲得高質(zhì)量的切割截面,仍然是科研人員和工程技術(shù)人員關(guān)注的重點。一、離子束能量與電流的合理匹配三離子束切割儀通常配備三種不同能量級別的離子源:高能主束用于快速去除大塊材料,中能束用于精修表面,低能束則用于最終拋光以減少損傷層。...

  • 2025

    5-12

    鍍膜儀在眾多材料的表面處理中有著廣泛應用,而有機玻璃作為一種常見的透明材料,人們自然也會關(guān)注鍍膜儀是否可以對其進行鍍膜。從原理角度來看,鍍膜儀原理多樣,常見的有蒸發(fā)鍍膜、濺射鍍膜、化學氣相沉積等。對于有機玻璃而言,多種鍍膜儀是能夠開展鍍膜工作的。例如蒸發(fā)鍍膜儀,它通過加熱鍍料使其蒸發(fā),然后讓蒸發(fā)的粒子沉積在有機玻璃表面形成薄膜。只要合理控制蒸發(fā)溫度、速率以及環(huán)境氣壓等條件,就可以在有機玻璃上實現(xiàn)鍍膜。因為有機玻璃本身具有一定的耐熱性,能夠在適當?shù)臏囟葪l件下承受鍍料蒸發(fā)所產(chǎn)生的...

  • 2025

    1-9

    原子力顯微鏡在納米科學、材料科學等眾多領域都有著極為重要的應用,而它的探針作為其中的關(guān)鍵部件,其導電性情況有著不容忽視的意義,以下是對探針導電性的詳細說明。探針的導電性類型多樣。從導電與否的角度來看,存在導電型和非導電型的區(qū)分。非導電型探針通常由諸如氮化硅等絕緣材料制成,主要應用于對樣品表面形貌進行常規(guī)的高分辨率成像,比如觀測一些絕緣的高分子材料、生物大分子等的微觀結(jié)構(gòu),在這種情況下,并不需要探針具備導電功能,僅依靠探針與樣品之間的原子力作用就能完成掃描成像任務。而導電型探針...

  • 2024

    12-11

    在材料科學與微觀結(jié)構(gòu)研究領域,LEICA三離子束切割儀是一種重要的制樣工具,其離子研磨速率對制樣質(zhì)量和效率有著關(guān)鍵影響。三離子束切割儀主要通過離子束對樣品進行逐層研磨,以獲得平整、無損傷的樣品截面,便于后續(xù)在電子顯微鏡等設備上進行微觀結(jié)構(gòu)觀察與分析。離子研磨速率首先與離子束的能量相關(guān)。較高能量的離子束能夠更有力地撞擊樣品表面原子,使其脫離樣品本體,從而加快研磨速率。然而,離子束能量并非越高越好。過高的能量可能會對樣品造成過度損傷,引入不必要的缺陷或改變樣品的原始微觀結(jié)構(gòu),這對...

  • 2024

    11-12

    在材料科學、納米技術(shù)和半導體工業(yè)中,離子束切割技術(shù)以其高精度、低損傷和高靈活性的特點,成為科研人員和工程師們重要的工具。傳統(tǒng)的離子束切割儀通常只能一次處理一個樣品,這在一定程度上限制了實驗效率和生產(chǎn)能力。為了克服這一瓶頸,科學家們研發(fā)了一種新型的三離子束切割儀,其特別的多樣品臺設計能夠一次容納三個樣品,極大提升了工作效率和生產(chǎn)力。本文將詳細介紹這一創(chuàng)新設計的原理、優(yōu)勢及其應用前景。三離子束切割儀的核心在于其多樣品臺的設計。該樣品臺由三個獨立的樣品座組成,每個樣品座都可以獨立控...

  • 2024

    10-12

    在現(xiàn)代半導體制造與材料科學領域,聚焦離子束(FIB)技術(shù)因其高精度加工能力而廣受重視。然而,在使用FIB探針進行微納加工時,“撞針”現(xiàn)象偶有發(fā)生,對加工精度和樣品質(zhì)量造成影響。首先我們必須明確何為撞針現(xiàn)象。在FIB加工過程中,當高能離子束聚焦于樣品表面進行刻蝕或沉積時,若探針突然失去穩(wěn)定性,導致離子束偏離預定軌跡,撞擊到非目標區(qū)域,即發(fā)生了撞針現(xiàn)象。這種現(xiàn)象不僅會破壞樣品結(jié)構(gòu),還可能導致加工失敗。探究撞針現(xiàn)象的成因,可從以下幾個方面進行分析:一是設備老化或維護不當導致的機械故...

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